采用离子交换法制备V2O5·nH2O,与Cu2O粉末通过软化学反应合成了CuV2O6.利用TG、XRD、XPS和SEM等方法对产物进行了分析,采用恒流充放实验进行了电化学性能测试.形成CuV2O6所需的焙烧温度较低,所制备的CuV2O6颗粒细小均匀,在350℃下制备的CuV2O6的首次放电比容量为355mAh/g(30mA/g).非现场XRD和EIS谱的结果表明,单质Cu在放电过程中的析出及由此导致CuV2O6的结构不可逆性,是容量衰减的根源.
作 者：曹晓雨 谢玲玲 詹晖 周运鸿 CAO Xiao-yu XIE Ling-ling ZHAN Hui ZHOU Yun-hong 
作者单位：曹晓雨,谢玲玲,CAO Xiao-yu,XIE Ling-ling(河南工业大学化学化工学院,河南郑州,450001)
詹晖,周运鸿,ZHAN Hui,ZHOU Yun-hong(武汉大学化学与分子科学学院,湖北武汉,430072)
刊 名：电池  ISTIC PKU
英文刊名：BATTERY
年，卷(期)：2008 38(3)
分类号：TM912.9
关键词：锂离子电池   正极材料   CuV2O6   容量衰减 
机标分类号：TM2 TM9
机标关键词：反应合成电化学性能放电比容量性能测试容量衰减离子交换放电过程不可逆性焙烧温度软化学现场析出实验颗粒结构恒流粉末方法法制
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参考文献(8条)
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